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梅特勒
梅特勒电子天平XS3DU
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产品名称:
梅特勒电子天平XS3DU
产品型号:
产品展商:
梅特勒
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简单介绍
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有**的称量性能,完全满足基础称量应用:在800mg的精细量程范围内提供1μg的可...
梅特勒电子天平XS3DU
的详细介绍
梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有**的称量性能,完全满足基础称量应用:在800 mg的精细量程范围内提供1 μg的可读性。具有同类产品中的重复性可低至0.8 μg,是获得理想的称量可靠性的关键,避免不必要的重复测试,显著地降低了样品和时间的浪费。
梅特勒-托利多XS3DU微量天平专为提高称量效率和可靠性而设计。
标准配置
内置称量应用程序
TouchScreen触摸屏,方便天平称量和参数设置
SmartTrac彩色动态图形显示器:图形称量辅助,跟踪称量范围和公差
可设置多达10个特定功能的快捷键
可定义3个的信息,用于用户和样品标识
内置RS232C和两个辅助接口;用于连接键盘或ErgoSens外接红外感应器选件,实现无需用手接触的称量操作
**接口选件插槽;例如LocalCAN,以太网,RS232,MiniMettler,蓝牙或PS/2等接口选件
手动开关门的玻璃防风罩
可更换的显示屏保护盖
下挂钩称量
具有过载保护的称量传感器
显示多种质量单位
差重称量应用程序
计件和百分比称量应用程序
统计应用程序
技术指标
极限值
XS3DU 双量程
称量值
3.1 g
可读性
0.01 mg
称量值
0.8 g
可读性
0.001 mg
重复性(sd) - 加载处
0.006 mg
- 低加载(加载处)
0.005 mg (0.2 g)
重复性(sd) - 加载处
0.001 mg
- 低加载(加载处)
0.0008 mg (0.2 g)
线性误差
0.004 mg
四角误差(加载处)1)
0.005 mg (2 g)
典型值 4)
典型重复性(sd)
0.0005 mg +1.2 x (10–7)•R_gr
典型微分非线性(sd)
√2x(10-12)g·R_nt
典型微分四角误差(sd)
1.2 x (10–6)•R_nt
典型灵敏度偏移(sd)2)
3 x (10–6)•R_nt
典型*小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)
0.1 mg+2.4 x (10–6)•R_gr
典型稳定时间
< 6 sec
稳定时间
< 10 sec
1) 根据OIML R76
2) 在10到30°C的温度范围内
3) 次安装,使用proFACT校准,灵敏度稳定性
4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重(样品质量) a=年
* 重复性和*小称量值可以通过以下措施得以改进:- 选择适当的称量参数设置,- 选择合适的天平放置位置,- 使用较小的去皮容器。
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